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集成電路X-Ray
半導體微焦點X射線檢測裝備 AX8300S Plus
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半導體微焦點X射線檢測裝備 AX8300S Plus
◆ 2.5D無死角檢測

◆ 高分辨率,解析度2μm

◆ 雙屏雙搖桿

◆ 配備半導體自動檢測算法,單個點檢測1.5S
半導體X-ray
微焦點X射線檢測設備
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